Beam Imaging NanoScan 2s 狭缝扫描式光束分析仪
| 品牌 | Beam Imaging |
| 型号 | NanoScan 2s |
| 中文品名 | 狭缝扫描式光束分析仪 |
| 用途 | 高分辨率激光束宽和M²测量 |
| 测量原理 | 旋转狭缝扫描 |
| 狭缝宽度 | 2.5 / 5 / 10 μm可更换 |
| 波长范围 | 190 nm–25 μm（取决于探头） |
| 束宽范围 | 3 μm–9 mm |
| 分辨率 | 0.1 μm |
产品描述
NanoScan 2s是一款狭缝扫描式光束分析系统，专为高精度束宽和M²测量设计
采用NIST标准传递的旋转狭缝扫描技术，可在紫外到远红外的宽光谱范围内获得高分辨率的束宽和束形数据。无传感器像素化误差，精度优于相机法。
主要特点
- 亚微米束宽分辨率
- 190 nm–25 μm超宽光谱
- 无像素化伪影
- NIST可溯源校准
- 自动M²测量套件可选
典型应用
- 紫外激光器(193/248 nm)束宽测量
- CO₂激光10.6 μm光斑分析
- 光纤激光输出端束腰定位
- 激光晶体热透镜效应表征
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联系方式
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