美国 Beam Imaging NanoScan 2μm 扫描狭缝光束分析探头（Scanning Slit Beam Profiler）采用2μm宽度的精密金刚石加工狭缝，通过旋转狭缝扫描激光束截面获得一维和二维强度分布。狭缝宽度仅2μm，可精确分辨光斑直径小至3μm的激光光束轮廓，空间分辨率极高。配备InGaAs或硅探测器覆盖190-1800nm波长范围，功率测量范围nW级至kW级（配合衰减器）。NIST可溯源校准。适用于光纤激光器微米级焦点光斑的亚微米精度轮廓测量、半导体激光器近场光斑的狭缝扫描高分辨分析以及超快激光加工中聚焦光斑尺寸和能量密度分布的精确测量优化。
| 品牌 | Beam Imaging |
| 国家 | 美国 |
| 型号 | NanoScan 2μm |
| 产品类型 | 扫描狭缝光束分析探头 |
| 狭缝宽度 | 2 μm |
| 最小可测光斑 | ~3 μm |
| 波长范围 | 190-1800 nm |
| 功能 | 亚微米级高分辨激光束轮廓分析 |
| 用途 | 光纤激光焦点轮廓、半导体近场光斑、超快激光聚焦测量 |
| 适用客户 | 超精密激光加工研发、光纤激光器焦点特性测试、半导体激光质检 |
| 选型重点 | 狭缝宽度选型、探测器材料匹配(波长)、功率衰减配置 |
| 采购服务 | 元锤OneHammer提供狭缝清洁和校准验证服务 |
- Beam Imaging 品牌首页
- Beam Imaging BeamMap2 实时分析
- Beam Imaging M²-200 光束质量
- Beam Imaging BM-Plus 长期监测
- 狭缝光束分析技术说明
- 元锤OneHammer 科学仪器采购平台
—
联系方式
元锤 OneHammer 专注进口科学仪器与工业设备供应
📞 王经理：15618182182（微信同号）
为科研院所、高校、企业提供品牌产品采购咨询与技术支
王经理（微信同号）15618182182
王经理（微信同号）15618182182