Alesa Cosmos光学监控系统（OMS）基于宽光谱透射/反射实时监控原理，波长范围350-1100nm（可扩展至1700nm）。测量速率>20Hz，光谱分辨率<1nm，可精确监控薄膜生长过程中的膜厚变化。集成专业膜层设计软件，支持自动停镀和反向工程分析。
| 参数 | 规格/描述 |
|---|---|
| 光谱范围 | 350-1100 nm (可扩展1700 nm) |
| 测量速率 | >20 Hz |
| 光谱分辨率 | <1 nm |
| 检测方式 | 透射 / 反射实时监控 |
产品应用
- 多层光学薄膜镀膜过程中的膜厚实时监控
- 窄带滤光片和分色镜膜系精确停镀控制
- 薄膜沉积工艺开发与反向工程分析
—
联系方式
元锤 OneHammer 专注进口科学仪器与工业设备供应
📞 王经理：15618182182（微信同号）