Ossila TF-150 四探针测试夹具专为薄膜材料电阻率和电导率精确测量设计，兼容各类半导体、导电聚合物和纳米材料薄膜。弹簧加载探针确保良好接触，适配 Ossila 测试平台和标准源表。
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 探针间距 | 1.27 mm (0.05″) |
| 探针材质 | 钨钢 (弹簧加载) |
| 最大样品尺寸 | 20 × 20 mm |
| 接口 | BNC × 4 / SMA |
产品应用
- 薄膜材料电阻率测量
- 导电聚合物电导率测试
- 纳米材料薄膜电性能评价
相关产品推荐
—
联系方式
元锤 OneHammer 专注进口科学仪器与工业设备供应
📞 王经理：15618182182（微信同号）