挪威HySpexSWIR-640-I短波红外高光谱成像仪专为640分辨率空间短波红外高光谱推扫成像而设计，采用先进制造工艺和严格质量控制，提供卓越的性能表现。产品广泛用于地质矿物勘探短波红外SWIR识别填图、塑料分选高光谱材质牌号鉴别分类、食品水分/脂肪/糖度高光谱分布检测，是科研与工业应用的专业选择。
**产品规格表**
| 项目 | 参数 |
|——|——|
| 品牌 | HySpex |
| 国家 | 挪威 |
| 型号 | SWIR-640-I短波红外高光谱成像仪 |
| 产品类型 | 640分辨率空间短波红外高光谱推扫成像 |
| 功能 | 640分辨率空间短波红外高光谱推扫成像 |
| 用途 | 地质矿物勘探短波红外SWIR识别填图、塑料分选高光谱材质牌号鉴别分类、食品水分/脂肪/糖度高光谱分布检测 |
| 适用客户 | 科研院所、工业用户、系统集成商、实验室 |
| 选型重点 | 性能参数、应用场景匹配、配套需求 |
| 采购服务 | 元锤OneHammer提供选型指导与进口采购服务 |
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