镀膜反射率测量探头 薄膜质量

美国 Dyn-Optics 镀膜反射率测量探头是专为透明基底上薄膜反射率无损检测设计的光纤耦合反射率测量附件,适用于玻璃和晶圆上光学膜层。

产品数据表

品牌 Dyn-Optics
国家 美国
产品类型 膜厚监控仪器
主要功能 光学薄膜厚度实时监控
典型用途 真空镀膜工艺控制

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