美国 Beam Imaging NanoScan 2μm狭缝式光束分析仪（Slit-Based Beam Profiler）采用超窄2微米扫描狭缝，可精确测量聚焦光斑直径小至几微米的光束剖面。支持实时一次二维和三维重建激光束的空间能量分布，测量光束直径、椭圆度、指向稳定性和远场发散角等核心参数。适用于光纤端面出光检测、半导体激光器近场与远场、显微物镜聚焦光斑和飞秒激光微加工光束的诊断分析。
| 品牌 | Beam Imaging |
| 国家 | 美国 |
| 型号 | NanoScan 2μm |
| 产品类型 | 狭缝式光束分析仪 |
| 狭缝宽度 | 2 μm |
| 功能 | 高分辨率激光光斑能量分布测量 |
| 用途 | 光纤端面检测、显微聚焦光斑测量、飞秒激光诊断 |
| 适用客户 | 激光微加工企业、光纤通信实验室、半导体设备厂商 |
| 选型重点 | 狭缝宽度、波长覆盖范围、损伤阈值 |
| 采购服务 | 元锤OneHammer提供配套衰减器与安装支架 |
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