美国 Beam Imaging NanoScan 狭缝扫描光束分析仪 高功率激光测量

美国 Beam Imaging NanoScan 系列狭缝扫描光束分析仪是专为高功率激光光束轮廓精确测量设计的狭缝扫描式光束诊断系统，属于 Beam Imaging 高功率激光测量产品系列。NanoScan 采用旋转狭缝扫描技术，无需衰减即可直接测量从 UV 到 FIR 波段高功率激光的束宽和光束剖面，支持最高 4kW 连续激光和脉冲激光的实时测量，适用于工业激光加工和材料处理的质量监控。元锤OneHammer 提供该品牌中国客户的选型、报价与进口采购服务，欢迎联系王经理（15618182182 / shu@onehammertech.com）咨询。