美国 Beam Imaging MicroSpot 显微激光光束测量系统（Micro Laser Spot Measurement System）专为直径<100μm的超细微小激光光斑的形貌和强度分布精密测量设计。系统集成高NA显微物镜（10×/20×/50×/100×可选）将微小光斑放大成像到NanoScan狭缝扫描器或相机式光束分析仪传感器上。配合精密Z轴电动对焦和光斑定位，空间分辨率可达<1μm（取决于物镜NA）。测量参数包括光斑直径（D4σ / 1/e² / 13.5%）、光斑椭圆度和峰值功率密度等重要参数。被测光源波长覆盖UV 355nm至近红外1064nm。适用于单模光纤/保偏光纤出光端面的近场模场直径MFD和强度分布精确测量、激光二极管LD芯片近场发光条/NFP的宽度和发散角分布精密测量和远场分布以及激光直写光刻/双光子聚合3D打印系统聚焦微光斑在焦平面上的直径/形状/像差的直接测量以验证光学系统聚焦性能。
| 品牌 | Beam Imaging |
| 国家 | 美国 |
| 型号 | MicroSpot |
| 产品类型 | 显微激光光束测量系统 |
| 分辨率 | <1 μm |
| 物镜 | 10×/20×/50×/100× |
| 测量波长 | UV 355nm – NIR 1064nm |
| 光斑直径测量 | D4σ/1/e²/13.5% |
| 功能 | 超细微小光斑形貌和强度分布测量 |
| 用途 | 单模光纤MFD测量、LD芯片近场发光条测量、激光直写聚焦光斑验证 |
| 适用客户 | 光纤激光器/光纤器件制造商、激光二极管封装厂、精密激光加工设备商 |
| 选型重点 | 物镜放大倍数(分辨率vs视场)、被测波长、是否需要电动Z轴对焦 |
| 采购服务 | 元锤OneHammer提供MicroSpot中性密度滤光片衰减组件 |
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