美国 Beam Imaging Spiricon SP503U 是一款高分辨率紫外-近红外光束分析仪（Beam Profiler），基于硅基CCD或CMOS传感器阵列直接测量激光束的空间强度分布。波长覆盖190-1100nm，传感器分辨率1280×1024像素，像素尺寸4.65μm。配套BeamGage Pro分析软件实时计算光束直径（D4σ）、椭圆度、质心漂移、M²等全参数。采用自动曝光和背景减除算法确保高动态范围下的测量置信度。适用于固体激光器光束质量定期校准、光纤激光器M²参数认证和紫外准分子激光光束均匀性的在线评价。
| 品牌 | Beam Imaging |
| 国家 | 美国 |
| 型号 | Spiricon SP503U |
| 产品类型 | 高分辨率光束分析仪 |
| 光谱范围 | 190-1100 nm |
| 分辨率 | 1280×1024 |
| 功能 | 激光束空间强度分布实时测量与分析 |
| 用途 | 激光器光束质量校准、M²认证、紫外光束均匀性评价 |
| 适用客户 | 固体/光纤激光器制造商、激光加工OEM、激光实验室 |
| 选型重点 | 传感器类型（CCD/CMOS）、损伤阈值、衰减附件兼容性 |
| 采购服务 | 元锤OneHammer提供配套光束衰减器与激光安全防护 |
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