意大利 Alkeria OMEGA SWIR 短波红外相机 InGaAs 0.9-1.7μm 太阳能电池/硅片检测

意大利 Alkeria OMEGA SWIR 短波红外相机,InGaAs探测器响应0.9-1.7μm(SWIR波段),分辨率640×512/320×256。帧率最高100fps@640×512。CameraLink/GigE/USB3接口。制冷型(TEC -40°C)降低暗电流。适用于太阳能电池/硅片内部缺陷(隐裂/黑心/微裂纹)SWIR透射成像—硅在1.1-1.7μm透射突出可使内部缺陷清晰成像、半导体晶圆/芯片IV和LIV测试SWIR显微成像观察有源区发光以及激光/光纤/光学镀膜SWIR激光光束光斑分析。

品牌 Alkeria
国家 意大利
型号 OMEGA SWIR
探测器 InGaAs
响应 0.9-1.7μm
分辨率 640×512 / 320×256
接口 CameraLink/GigE/USB3
制冷 TEC -40°C

联系方式

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