意大利 Alkeria Necto SWIR 短波红外相机 硅基材料内部缺陷检测

Alkeria Necto SWIR 短波红外相机

品牌 Alkeria
型号 Necto SWIR
中文品名 短波红外相机
用途 硅基材料内部缺陷检测
波长范围 0.9–1.7 μm (SWIR)
传感器 InGaAs
分辨率 640 × 512
帧率 100 fps
接口 Camera Link / GigE Vision

产品描述

Necto SWIR是一款基于InGaAs传感器的短波红外工业相机

SWIR波段可以穿透硅、玻璃和部分塑料,用于检测材料内部结构或纯度。高灵敏度InGaAs传感器在0.9–1.7 μm波段具有优异量子效率。

主要特点

  • InGaAs高灵敏度传感
  • SWIR穿透硅基材料
  • 100 fps快速成像
  • 小尺寸便于系统集成
  • 可选TE制冷降噪版

典型应用

  • 太阳能硅片裂纹检测
  • 晶圆键合层空洞检测
  • 食品水分/异物检测
  • 文物/艺术品底层透视

联系方式

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